屏蔽室或屏蔽暗室的屏蔽效能測試或性能測試是安裝的最后階段，這也可能是最重要的階段。不幸的是，測試過程被認(rèn)為是麻煩的或在某種程度上被認(rèn)為是不可思義,事實上，屏蔽室的測試標(biāo)準(zhǔn)是一致的。

主要的區(qū)別在于測試所用的設(shè)備不同。

事實上，屏蔽效能測試很簡單，并與MIL-STD-220也就是插入損耗測試標(biāo)準(zhǔn)是一致的。主要的區(qū)別在于測試所用的設(shè)備不同。

屏蔽房屏蔽效能測試基本上等同于電子測試設(shè)備的校準(zhǔn)。與測試設(shè)備一樣，當(dāng)小型屏蔽房的屏蔽效能降低時就需要對其進(jìn)行校準(zhǔn)。當(dāng)校準(zhǔn)屏蔽房或測定屏蔽暗室的屏蔽效能時，要使用輻射測試技術(shù)。所幸的是美國軍方和安全部門已建立了相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)描述了特定頻率和測試場地條件下的測試方法、設(shè)備和測試過程。這些測試過程經(jīng)過微小的調(diào)整，就能應(yīng)用于任何屏蔽房的安裝，并滿足用戶要求。

測試屏蔽效能最經(jīng)常用到的兩個測試標(biāo)準(zhǔn)或測試程序是MIL-STD-285和NSA65-6。這些文件描述了對設(shè)備配置和測試場地的要求。每個程序中也規(guī)定了測試頻率和衰減量。

屏蔽房屏蔽效能測試標(biāo)準(zhǔn)的描述
 MIL-STD-285屏蔽效能測試標(biāo)準(zhǔn)

近年來， MIL-STD-285不但在工業(yè)界廣為應(yīng)用，而且迄今為止應(yīng)用最為廣泛。 MIL-STD-285規(guī)定的測試程序在屏蔽室規(guī)范上經(jīng)常被引用，但其頻率需根據(jù)用戶要求進(jìn)行調(diào)整。
 MIL-STD-285是第一個頒布的用于測試射頻屏蔽小室標(biāo)準(zhǔn)，它頒布于1956年６月，用于替代頒布于1954年８月的MIL-A-18123（SHIPS)。
MIL-STD-285標(biāo)準(zhǔn)的主要目的是為了建立一種標(biāo)準(zhǔn)或者方法，用于測量射頻屏蔽室的衰減特性，這些屏蔽室用于頻率范圍從100KHZ到10GHZ的電子測試。該標(biāo)準(zhǔn)包括對測試頻率、測試場地和屏蔽衰減（或者屏蔽效能）的要求。
MIL-STD-285５屏蔽房屏蔽效能測試標(biāo)準(zhǔn)也提供了關(guān)于測試所需設(shè)備種類的描述。盡管 MIL-STD-285標(biāo)準(zhǔn)覆蓋了從100KHZ到10GHZ的頻率范圍，但它僅僅要求測量屏蔽室在５個頻率點的衰減特性（參見表１）